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FB762型 等厚干涉实验仪

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产品详情

光的等厚干涉原理在生产实践中具有广泛的应用,它可用于检测透镜的曲率,测量光波波长,精确地测量徽小长度、厚度和角度,检验物体表面的光洁度、平整度等。
工作形式:本实验在保留原物理实验形式与内容的基础上,采用现代化的视频技术,应用CCD图象显示,既可以演示又可以测量,进行测量基本精度0.004mm。优于传统的测微目镜。
实验内容
☆掌握等厚干涉原理及光束垂道入射有关劈尖和牛顿圈时的干涉计算
☆牛顿环:观察牛顿环的干涉图象 测量凸面的曲率半径
☆劈尖:测量微小量的厚度
☆掌握未知光源的波长测量
仪器主要配置及技术参数
☆显示屏:显示屏大小:8寸,比例4:3;分辨率:320X240; 电源:DC:8-32V,功耗<10W;画质:全自动彩色画质优良。
☆摄象头:类型:CMOS;分辨率:PAL制:625X582,NTSC制:51OX492 工作视角:620:最小照度:1.5 LAX;前后录深:60-70mm。
☆多种光源:半导体激光器、钠光灯、LED。

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